雷射粒徑與顆粒影像分析儀
Laser Particle Size and Particle Shape Analyzer
雷射粒徑與顆粒影像分析儀Bettersizer S3 Plus，是將雷射繞射分析粒徑和動態影像分析粒形結合在一台儀器中。它可以測量0.01μm至3500μm顆粒的尺寸和形狀。它對超細顆粒或超大顆粒具有卓越的靈敏度，以及無與倫比的分辨率，使其成為進行頂級科學研究的熱情研究人員最強大的尺寸和形狀分析儀。
- 可得到每一個顆粒的粒徑和粒形資訊
- 利用雷射光繞射法將每個顆粒的粒徑進行統計，從而得到粒徑(D50)及粒徑分佈
- 採用自動光學對焦
- 測量範圍：0.01至3500µm（雷射光學系統）； 2 至 3500µm（影像系統）
- 可選配自動進樣裝置
規格如下表，若需要詳細資訊請聯絡本公司
一般參數 | |
量測原理 | 雷射繞射法和動態影像技術 |
分析模式 | Mie scattering theory and Fraunhofer diffraction theory |
性能 | |
粒徑量測範圍 | 0.01 – 3500 μm (Laser System) 2 – 3500 μm (Image System) |
精確度 | ≤ 0.5%(NIST certified standards) |
再現性 | ≤ 0.5%(NIST certified standards) |
進樣模式 | 自動循環或半自動循環系統 |
特殊功能 | 折射率測量、SOP設置 |
光學系統 | |
光學系統 | 專利 DLOI（雙透鏡和斜入射）系統 |
雷射光源 | Polarized light-pumped solid-state laser (10 mW / 532 nm) |
CMOS相機 | 0.5x 和 10x * |
影像分析 | 120萬像素 |
濕式分散系統 | |
轉速設定範圍 | 300 – 2500 rpm/min |
流速範圍 | 3000 – 8000 ml/min |
超音波系統 | 空轉保護，最大 50 W |
循環槽容積 | 600ml |
操作軟體 | |
Conformity | 21 CFR Part 11, ISO 13320, ISO 13322, USP <429>, CE |
* 儀器可提供單一相機的機型(0.5x) ，若有需求請聯繫我們 | |
