德芮克國際股份有限公司

TREKINTAL CORP.

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乾溼式雷射粒徑分析儀

乾溼式雷射粒徑分析儀

Laser Diffraction Particle Analyzer

Treksizer 雷射粒徑分析儀是測量顆粒粒徑最有效的方法。經由側向、前向與後向全角度偵測散射光光信號之光學系統,具有高精確度之特性。擁有折射率測量技術,更提高重複性與準確性。可選配不同樣品進樣裝置,廣泛應用於各種領域。

  • 具備多種模式之樣品進樣裝置,可適用於各種類樣品:水循環分散系統應用於大部分樣品,乾式分散系統應用於易溶解樣品和磁性材料,微量乾式分散系統適用於貴重樣品(如原藥),溶劑型循環分散系統和微量樣品池系統適用於易溶解於水的之樣品。
  • 具有自動測試、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗等智慧化功能,簡化操作,減少了人為因素對量測結果的影響。

雷射粒徑與顆粒影像分析儀

Laser Particle Size and Particle Shape Analyzer

Treksizer 雷射粒徑與顆粒影像分析儀是一種雷射光分析與影像分析二合一的粒徑分析系統。

它的雷射光散射系統為雙鏡頭斜入射之光學系統,影像分析系統為動態雙顯微鏡影像系統,可同步進行粒徑和顆粒表徵分析,結合了一機兩用之功能。

  • 可得到每一個顆粒的粒徑和粒形資訊
  • 利用雷射光繞射法將每個顆粒的粒徑進行統計,從而得到粒徑(D50)及粒徑分佈
  • 採用自動光學對焦
  • 測量範圍:0.01至3500µm(雷射光學系統); 2 至 3500µm(影像系統)