顆粒特徵 雷射粒徑與顆粒影像分析儀 雷射粒徑與顆粒影像分析儀 Laser Particle Size and Particle Shape Analyzer Treksizer 雷射粒徑與顆粒影像分析儀是一種雷射光分析與影像分析二合一的粒徑分析系統。它的雷射光散射系統為雙鏡頭斜入射之光學系統,影像分析系統為動態雙顯微鏡影像系統,可同步進行粒徑和顆粒表徵分析,結合了一機兩用之功能。可得到每一個顆粒的粒徑和粒形資訊利用雷射光繞射法將每個顆粒的粒徑進行統計,從而得到粒徑(D50)及粒徑分佈採用自動光學對焦測量範圍:0.01至3500µm(雷射光學系統); 2 至 3500µm(影像系統) 規格表(了解更多)