顆粒特徵 奈米粒徑分析儀 雷射奈米粒徑與Zeta電位分析儀 Nano Particle Size and Zeta Potential Analyzer Treksizer 奈米粒徑與Zeta電位分析儀，具有高靈敏度、高精確度之特性，可測量粒徑與Zeta電位，是測量奈米顆粒的最佳設備。使用動態光散射法(D.L.S)分析奈米粒徑藉由電泳光散射法(E.L.S)分析Zeta 電位藉由靜態光散射法(S.L.S)分析絕對分子量採用大功率的雷射光光源和高靈敏度的APD具有精密的溫控系統 規格表(了解更多)
