雷射粒徑分析儀
Laser particle size analyzer
Treksizer雷射粒徑分析儀是測量粒子粒徑最有效的方法。具有微米粒徑分析儀與奈米粒徑分析儀，雷射粒徑與顆粒影像二合一功能之分析儀。
乾溼式微奈米粒徑分析儀，經由側向、前向與後向全角度偵測散射光光信號之光學系統，具有高精確度之特性。擁有折射率測量技術，更提高重複性與準確性，廣泛應用於各種領域。
奈米粒徑與Zeta電位分析儀，原理為動態光散射法(Dynamic Light Scattering, DLS)，利用觀察顆粒在分散媒中的布朗運動，進而分析奈米顆粒。利用電泳光散射法Electrophoretic Light Scattering, ELS)量測Zeta potential，是判斷粒子分散穩定性的重要數值。
- 具有微米粒徑分析儀與奈米粒徑分析儀
- 微米粒徑分析儀具備多種模式之分散系統，可適用於各種類樣品具。水循環分散系統應用於大部分樣品，乾式分散系統應用於易溶解樣品和磁性材料，微量乾式分散系統適用於貴重樣品（如原藥），溶劑型循環分散系統和微量樣品池系統適用於易溶解於水的之樣品。
- 具有自動測試、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗等智慧化功能，簡化操作，減少了人為因素對量測結果的影響。
- 奈米粒徑分析儀可擴充zeta potential功能
- 使用電泳光散射法分析
- 採用大功率的雷射光光源和高靈敏度的APD
- 具有精密的溫控系統
- 可擴充Size功能
影像粒徑分析儀
Image particle size analyzer
Treksizer 影像粒徑分析儀，包括光學顯微鏡、鏡頭(CCD)、圖像處理與分析軟件、電腦等部分組成。它是將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物。基本工作流程是通過專用鏡頭將顯微鏡的圖像拍攝下來並傳輸到電腦中，並藉由分析軟體對顆粒圖像進行處理與分析，從而得到每一個顆粒的粒徑和粒形資訊並進行統計。
- 可得到每一個顆粒的粒徑和粒形資訊
- 將每一個顆粒的粒徑和粒形資訊進行統計，從而得到粒徑(D50)及粒徑分佈、平均長徑比及長徑比分佈、平均真圓度及真圓度分佈等結果。
- 具有自動拍攝、自動分割、自動填充、可批處理多幅圖像、準確性標定等功能
- 自動化功能簡化了操作，提高了效率。
- 乾/濕式分析方法
- 實時結果可實現閉環控制
- 廣泛的採樣選項，將功能擴展到新的應用程序
- 即時量測，減少浪費，節省時間和成本
- 樣品量：50ml~2000ml
- 壓力範圍：3~3Kpsi
- 主要應用：製藥、生技、化學工業、食品、陶瓷工業和化妝品。
